時(shí) 間：2023年5月29日（周一）20:00
報(bào)告地點(diǎn)：全國(guó)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室A403
報(bào)告題目：環(huán)境電子掃描顯微鏡原理及其低溫中電鏡的應(yīng)用
報(bào) 告 人：王銘偉
主講內(nèi)容：環(huán)境電子掃描顯微鏡原理、微觀(guān)結(jié)構(gòu)及流體表征實(shí)驗(yàn)方法、冷凍條件下的環(huán)境掃描電鏡實(shí)例。
設(shè)備簡(jiǎn)介：環(huán)境電子掃描顯微鏡是開(kāi)展多孔介質(zhì)結(jié)構(gòu)及流體賦存表征、材料損傷等機(jī)理研究重要實(shí)驗(yàn)手段。基本原理是讓電子信號(hào)從不同方向撞擊樣品的表面，反射后而獲得物體電子信號(hào)，再根據(jù)信號(hào)建立樣品表面二維圖像，進(jìn)而結(jié)合圖像后處理手段，獲得樣品表面信息。本次將講座將通過(guò)介紹設(shè)備的成像原理、技術(shù)性能以及實(shí)驗(yàn)條件，助力各位老師和同學(xué)設(shè)計(jì)更加合理的實(shí)驗(yàn)方案，獲得更為豐富的研究數(shù)據(jù)，同時(shí)也結(jié)合微觀(guān)結(jié)構(gòu)表征方面的一些案例，以期望幫助大家拓寬研究思路。
歡迎全校師生參加！
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