題目：場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡Talos F200S基礎(chǔ)應(yīng)用培訓(xùn)
時(shí)間：2025年3月18日-19日，上午9:30開(kāi)始，下午14:30 開(kāi)始
地點(diǎn)：西南石油大學(xué)分析測(cè)試中心201室和電鏡室（科技園大廈西面裙樓）
工程師：戴硯超
戴硯超，2020年博士畢業(yè)于上海大學(xué)鋼鐵冶金專(zhuān)業(yè)，博士期間主攻鐵磁形狀記憶合金的定向凝固組織的晶體結(jié)構(gòu)及磁場(chǎng)輔助效應(yīng)的研究。畢業(yè)后加入賽默飛世爾科技，主要負(fù)責(zé)亞太地區(qū)透射電鏡的應(yīng)用支持工作。擅長(zhǎng)金屬材料，電池材料，冷凍work-flow等交叉學(xué)科敏感材料的TEM表征技術(shù)。在SEM，EBSD，TEM等表征工作中擁有豐富的經(jīng)驗(yàn)。
培訓(xùn)內(nèi)容及安排：
培訓(xùn)內(nèi)容 |
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第1天 9:30-12:00 14:30-18:00
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理論部分 · 透射樣品的制備 · 透射電鏡基礎(chǔ)原理 · 光路優(yōu)化 · 討論及答疑 TEM 界面介紹 · 樣品桿介紹，裝樣 · UI用戶(hù)軟件界面，控制面板 · Velox操作界面 · Ceta相機(jī)使用 o Ceta相機(jī)介紹 o Ceta相機(jī)成像設(shè)置 o DCFI 功能 TEM成像 · 日常合軸Direct alignment · Smart tilt 選區(qū)電子衍射(SAED) |
第2天 9:30-12:00 14:30-18:00
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高分辨HRTEM成像
掃描透射STEM成像
STEM 基本操作 STEM 合軸及成像光路合軸 高分辨HRSTEM 成像優(yōu)化 EDS 使用
使用Velox進(jìn)行EDS數(shù)據(jù)處理和分析 |
報(bào)名時(shí)間：2025年3月17日-18日
報(bào)名方式：填寫(xiě)飛書(shū)在線(xiàn)表格《場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡Talos F200S基礎(chǔ)應(yīng)用培訓(xùn)報(bào)名表》，鏈接見(jiàn)附件
聯(lián)系人：孫麗穎 2803
歡迎各位老師同學(xué)報(bào)名參加!
實(shí)驗(yàn)室與設(shè)備管理處（分析測(cè)試中心）
2025年3月17日
